冷熱臺可與同步輻射X射線散射、傅里葉紅外光譜儀、偏光顯微鏡聯用，用于表針不同溫度下樣品的結構檢測。冷熱臺溫控范圍為-190℃～350 ℃ ，可滿足諸多用戶的應用需求。

　　冷熱臺是可以使用顯微鏡載物片載樣，且容易使用的設備。樣品放置在載物片上，載物片直接放置在拋光的加熱元件上且可以進行15mm的X、Y方向移動。樣品腔室是氣密的，氣體閥可以控制腔室內的環(huán)境，即惰性氣體或濕度。

　　冷熱臺結合研究級巖相學顯微鏡使用，可以直接原位觀察在加溫或冷凍過程中樣品(如：流體包裹體、熔體包裹體)相態(tài)的變化，測定相變溫度，進而獲得相關的物理化學參數。

　　冷熱臺使用方便、重復性好、溫度精確。多種樣品載臺可以分析固體和液體樣品。使用石英坩堝可以從側門導入樣品，避免打開頂蓋、重新聚焦并節(jié)省時間。使 用不銹鋼環(huán)載臺需要打開熱臺頂蓋放入樣品。

　　冷熱臺可應用于半導體研究、液晶測試、化學等方面，能夠精確控溫，它的表面很平，適于做相關研究。真空型冷熱平臺多數應用于物理、半導體、電子工程、硅片等方面。冷熱臺黑色的臺體可以避免反光，適合集成在各種光路中，符合諸多用戶的應用需求。